The disturbance between the bus signals of PCI control card exists on test system of phase change memory,which results in the distortion of the pulse signal used to work on device unit on phase change memory.
相变存储器测试系统由于PCI控制卡中的总线信号之间的串扰,严重影响了施加在器件单元上的波形;以保证对C-RAM(Chalcogenide-Random Access Memory)进行非晶化操作时脉冲信号下降沿的速度和整个信号的完整性,针对以上问题分别从串口与单片机通信控制继电器和利用PCI控制卡控制继电器两个方面提出了解决方案,并进行了相应的硬件电路和软件设计;结果发现非晶化操作时脉冲信号下降速度加快,并且消除了信号的失真;改善后的测试系统对器件一致性的参数的提取发挥了重要作用,为芯片的电路设计奠定了基础。
A 12 bit, 105MSps A/D Card, which implements PCI master capability, and with 256K RAM, is designed in this paper.
文章设计了一种采用PCI主控模式(Master)进行高速数据传输的12位分辨率,最高采样率105MSps、256K卡上缓存的PC机用数据采集卡。